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颗粒物源解析成分监测
IntelliSEM EPAS 智能扫描电镜环境颗粒物分析系统
详情介绍
自动、快速的环境颗粒物表征分析
系统概要：
RJLee实验室（RJ Lee Group）研发的智能扫描电镜环境颗粒物分析系统（IntelliSEM EPAS，Enviromental Particle Analysis System）将智能控制技术和专业数据分析计算方法与扫描电镜-能谱仪（SEM-EDS）相结合，可以自动、准确、快速地对环境样品中的大批量单颗粒进行表征分析，为用户提供丰富的专业软件工具，具备对数据进行可视化分析、挖掘与管理的强大功能。
IntelliSEM EPAS系统的独特技术优势在于兼具分析广度和深度于一体，具备每小时分析数万个单颗粒的快速分析时间效率，完整获取和记录每个颗粒物的几何形状、能谱以及数字影像信息，据此，可以较高的统计置信度获得环境样品的整体特征，并深入探究每个单颗粒的细节特征。
系统应用：
* PM10、PM2.5、PM10-2.5、超细颗粒物的表征研究；
* 扬尘研究；
* 环境颗粒物中金属的识别；
* 环境颗粒物中飞灰的识别；
* 碳颗粒物（煤烟、生物、煤）形态研究；
* 颗粒物长距离传输研究；
* 土壤中金属的生物可利用率评估；
* 点源和无组织面源排放特征的研究；
* 颗粒物源解析（受体模型）研究；
* UNC被动采样器样品的分析；
系统特点：
* 为环境颗粒物分析量身定做的软件包；
* 极强的颗粒物分析功能，快速获取大量单颗粒物的表征分析数据和统计分析结果；
* 智能化的扫描电镜-能谱仪分析操作：
* 远程控制和远程分析操作；
* 无缝控制和远程再定位特定的颗粒以便进一步的详尽分析；
* 利用IntelliSEM工作台对颗粒物分析数据进行汇总处理/可视化“后分析”；
IntelliSEM EPAS系统的样品分析流程：
* 扫描电镜获取的灰度影像用于检出颗粒物；
* 生成每个粒子的单颗粒影像；
* 对每个单颗粒进行箱形测量，得到直径数据；
* 进行能谱（EDS）测量获得单颗粒的元素组成；
* 完成分析操作后，在“工作台”上对数据进行解析处理；
